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在线式组件EL/BVI扫描仪(MPS-EBV-AS)
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项目
具体参数
样品类型
单/多晶组件
1600x1000mm~2520x1400mm
整片/半片/叠瓦/TR/...
单玻/双玻分体接线盒组件
测试节拍
<20s/pc
相机像素
EL:230万/500万可选
FVI:1200万/2000万可选
RVI:1200万/2000万可选
缺陷识别
EL人工识别,自动识别可选
VI辅助识别
可识别缺陷类型
EL:隐裂、虚焊、黑心、混档等
VI:片/串间距、爬电距、露白、异物、崩边缺角、色差等
版权由沛煜光电科技(上海)有限公司 所有| 沪ICP备14049420号-1
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